怎么判断晶片电阻好坏

提及薄膜精密晶片电阻，薄膜晶片电阻器（RTR）是用类蒸发的方法将一定电阻率材料蒸镀于绝缘材料表面制成，一般这类电阻常用的绝缘材料是陶瓷基板。

薄膜电阻器是高精度电阻器的一种，它采用类蒸发的方法将一定电阻率材料蒸镀于绝缘材料表面制成，一般这类电阻常用的绝缘材料是陶瓷基板。我们常说的高精度低温漂贴片电阻一般就指的是薄膜贴片电阻器，包括常见的千分之一电阻和万分之一电阻。

厚膜贴片电阻，又称：片式固定电阻器，采用厚膜工艺印刷而成，这种电阻有多种形状，包括带型、曲线形、长方形等。主要在功率电阻和精密电阻的制造中应用较多。这种电阻耐潮湿、高温、温度系数小、体积小，重量轻。

常规厚膜片式电阻生产流程：原材料准备基片浆料丝网→正背面导体印刷→导体烧结烘干→电阻印刷→电阻体烧结→玻璃层印刷→玻璃层烧结→镭射切割→保护层印刷→保护层硬化→字码印刷→分条→端银/溅镀→端头硬化→折粒/电镀→测试→编带包装。

薄膜精密晶片电阻，怎么区分电阻是薄膜式还是厚膜式

薄膜电阻和厚膜电阻是使用较多的一种类型电阻，薄膜电阻是现在主流的贴片精密电阻器，但是如何区分这两种电阻呢？

1、根据膜厚

厚膜电阻的膜厚一般大于10μm，薄膜的膜厚小于10μm，大多处于小于1μm;2、根据制造工艺

厚膜电阻一般采用丝网印刷工艺，薄膜电阻采用的是真空蒸发、磁控溅射等工艺方法。

3、根据精度

薄膜精密晶片电阻，厚膜电阻一般精密程度不高，多数是1%、5%、10%等，而薄膜电阻则可以做到0.01%精度，0.1%精度等；4、根据温度系数

厚膜电阻的温度系数上很难控制，一般较大，但是薄膜电阻则可以做到非常低的温度系数，如5PPM/℃，10PPM/℃这样电阻阻值随温度变化非常小，阻值稳定可靠，因此价格相对厚膜电阻来说会比较贵一些。因此：当温度系数和精度要求高时，就使用薄膜工艺的电阻，如果是一般要求使用厚膜工艺的电阻即可。

薄膜电容好坏检测

方法一

1.将电容器与电源接通，如果接通的瞬间万用表的指针不摆动，则说明电容器失效或断路。若表针一直指示电源电压，但是却不作摆动，表明电容器已短路。若表针摆动正常，但不返回零位，说明电容器有漏电现象。因为所指示的电压数值越高，表明漏电量越大。

2.薄膜精密晶片电阻，测量容量小的电容器所用的辅助直流电压不能超过被测电容器的耐压，以免因测量而造成电容器击穿损坏。要想准确测量电容器的容量，需要采用电容电桥或Q表。上述的简易检测方法，只能粗略判断压力表电容器的好坏。

3.容量大的固定电容器可用万用表的电阻档（R×1000）测量电容器两电极，看表针的摆动情况，摆幅越大，表明电容器的电容量越大。若测试棒一直碰触电容器引线，表针应指在∞附近，否则，表明该电容器有漏电现象，其电阻值越小，说明漏电量越大，则电容器质量越差。

4.在检查电容器的好坏时， 对耐压较低的电解电容器，电阻档应放在R×100或 R×1K档，把红表笔接电容器的负端，黑表笔接正端，这时万用表指针将摆动，然后恢复到零位或零位附近，这样说明电解电容器的质量是合格的。电解电容器的容量越大，充电时间越长，指针摆动得也越慢。薄膜精密晶片电阻

如何判断贴片电阻好坏？

判断贴片电阻的好坏有以下两种情况：

第一种：用万用表在线测量法，电阻值大于标称值时，说明元件有断路性故障或电阻值变大，已经损坏；所测阻值小于标称值时，要考虑到是外围并联元件对其造成的影响，应将元件一端或两端脱开电路进行测量，以便得出确切的测量结果。

一旦仪器仪表中的长方框架形线绕精密电阻损坏，可用与原电阻合金丝的材料、直径、长度均相同的新合金电阻丝均匀绕在原框架上代替。如果原长方框架形线绕精密电阻只是表面绝缘层破损，只需将原电阻丝从框架上拆下，重新浸漆（宜选用性能优、价格低的1260绝缘清漆），再经晾干处理后重新绕到原长方框架上即可。

第二种：外观特征判断法。

具体外观特征判断如下：

贴片电阻表面二次玻璃体保护膜应覆盖完好，出现脱落，可能已经损坏。

元件表面应该是平整的，若再现一些“凸凹”，可能损坏。

元件引出端电极一般应平整、无裂痕针孔、无变色现象，如果出现裂纹，则可能损坏。

贴片电阻体表面颜色烧黑，可能已经损坏。

电阻体己经变形，可能损坏。